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有源近場(chǎng)探頭HZ540HZ550（3G）?HZ540和HZ550為有源近場(chǎng)探頭組套裝，設(shè)計(jì)用于在解決電磁輻射問題時(shí)提供診斷幫助。這些套件分別由三個(gè)或五個(gè)不同的手持式探頭組成。它們擁有不同的靈敏度和接收特性，可結(jié)合各種頻譜分析儀、EMI接收機(jī)或示波器使用。

PBS2近場(chǎng)探頭組（前置放大器UBBV2）DC-9G何頻譜分析儀、示波器或EMI測(cè)試接收機(jī)，頻率范圍超寬，滿足您現(xiàn)在以及未來的測(cè)量需求。 PBS2近場(chǎng)探頭組包括4個(gè)磁場(chǎng)探頭和1個(gè)電場(chǎng)探頭，所有探頭均覆蓋絕緣層。配備手握式三角架，固定探頭組，以消除抖動(dòng)帶來的影響

PBS1近場(chǎng)探頭組（DC-9G）適合任何頻譜分析儀、示波器或EMI測(cè)試接收機(jī)，頻率范圍超寬，滿足您現(xiàn)在以及未來的測(cè)量需求。PBS1近場(chǎng)探頭組包括4個(gè)磁場(chǎng)探頭和1個(gè)電場(chǎng)探頭，所有探頭均覆蓋絕緣層。配備手握式三角架，固定探頭組，以消除抖動(dòng)帶來的影響。

近場(chǎng)探頭EM5030（DC-3G）是一款主要用于查找干擾源，判定干擾產(chǎn)生原因的高性價(jià)比近場(chǎng)探頭。可用來檢測(cè)器件表面的磁場(chǎng)方向以及強(qiáng)度；檢測(cè)模塊附近的磁場(chǎng)環(huán)境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的

EMI傳導(dǎo)輻射預(yù)測(cè)試套裝EMC-SET2（3G）包含所有必要的儀器和EMI分析軟件，EMC-SET2能快速產(chǎn)評(píng)估產(chǎn)品的輻射測(cè)試和傳導(dǎo)測(cè)試，使用EMI分析軟件分析其產(chǎn)品是否滿足電磁兼容所相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)（EMI分析軟件內(nèi)置多種電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)），以及產(chǎn)品的快速整改測(cè)試。

EMI輻射干擾測(cè)EMC-3套裝（1Hz-9.4G）具有便攜、易用等特點(diǎn)，*覆蓋1Hz-9.4G。套裝內(nèi)HF-60105頻譜分析儀，內(nèi)置均方根（RMS）檢波器，配合HyperLOG60100對(duì)數(shù)周期天線完成EMC遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試，專業(yè)EMI電磁兼容分析軟件，內(nèi)置多種標(biāo)準(zhǔn)限值，滿足EN55011/EN55022測(cè)試要求。

EMC電磁兼容測(cè)試套裝EMC-1；頻率范圍*覆蓋1Hz-9.4GHz；輕松實(shí)現(xiàn)干擾精確定位，對(duì)數(shù)周期天線完成開闊場(chǎng)測(cè)試；免費(fèi)MCS電磁兼容分析軟件，多標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模板；EN55011、EN55022、EN50371（A/B）

手持式EMI測(cè)試接收機(jī)MSA538E（20K-3.3G）手持式實(shí)時(shí)頻譜分析儀（實(shí)時(shí)信號(hào)分析儀）世界上*個(gè)實(shí)時(shí)手持式系統(tǒng)和傳統(tǒng)頻譜掃描系統(tǒng)。通過快速傅立葉變換（FFT）實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)掃描，兩種方法掃描方式，各有的優(yōu)點(diǎn)。實(shí)時(shí)可以測(cè)量非平穩(wěn)信號(hào)，能夠調(diào)制分析和時(shí)域分析的實(shí)時(shí)系統(tǒng)。掃描方法，可以在很寬的跨度測(cè)量。