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TBPS01近場探頭

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概述

TBPS01近場探頭由TH20，H10，H5和E5是磁場（H）和電場（E）探頭，用于輻射發(fā)射EMC預(yù)一致性測量。探頭用于電磁輻射源的近場。它們用于在電子組件的構(gòu)造塊中定位和識(shí)別潛在的干擾源。這些探針的作用類似于寬帶天線，用于拾取組件，PCB跡線，外殼開口或縫隙以及可能發(fā)射射頻的任何其他部件的輻射。探頭通常連接到頻譜分析儀。在PCB組件或外殼的表面上掃描探針可以快速確定發(fā)出電磁輻射的位置。通過更換為較小尺寸的探頭，可以進(jìn)一步縮小發(fā)射源的范圍。其他應(yīng)用是通過將RF信號(hào)饋入探頭并將其輻射到潛在敏感的電路部分中來進(jìn)行RF抗擾度測試：此外，探頭可用于維修或調(diào)試領(lǐng)域，以通過減少接觸式RF測量來跟蹤RF信號(hào)鏈中的問題。信號(hào)電平。另一種應(yīng)用是對射頻構(gòu)件（例如調(diào)制器或振蕩器）的無創(chuàng)測量。頻率，相位噪聲和頻譜分量可以與低噪聲前置放大器一起測量。

應(yīng)用：

EMI輻射預(yù)測/整改

探頭尺寸：

頻率響應(yīng)：

耦合衰減：